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激光測量設備

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

型號：廠商性質：代理商
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激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測是所有的光學模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結構。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷，包括未對準、環境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數。工程師可以將其設計到 OEM 系統中，因為他們知道它將提供非常接近理論數學模型的結果。

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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現測量腔長。

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多波長動態干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分布，同時也可用于脈沖和連續窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。

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KALEO法國Phasics多波長激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長激光干涉儀模塊是用于光學計量的模塊化系統。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個經濟有效，體積緊湊且易于使用的完整光學測試系統。法國Phasics多波長激光干涉儀模塊

型號：KALEO 廠商性質：代理商
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點衍射激光干涉儀
點衍射激光干涉儀: 絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

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半導體/薄膜無損檢測儀
半導體/薄膜無損檢測儀：半導體行業為我們周圍遇到的大多數電子設備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進行多次薄膜沉積，。

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綜合電子測量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發生器，能夠產生高達250 MHz的正弦波。

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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復精度達到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質：代理商
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